貴重儀器

圖      片

名   稱

原  理  應  用

質譜儀 利用RGA在真空系統,量測被RF源離子化氣體的濃度或分壓。

傅立葉轉換紅外線光譜儀

(FTIR)

透過分子吸收紅外光區輻射作用引起振動和轉動能階的遷移所產生的紅外線吸收光譜,來鑑定化合物,大多用於官能基的鑑定。 

比表面積分析儀

(BET)

用在測量材料之比表面積、孔洞體積與平均孔洞半徑。
原子力顯微鏡

(Atomic Force Microscope AFM)

透過懸臂上的針尖以接觸式 非接觸式 輕敲式與試片產生原子作用力,使懸臂產生微細位移以測得表面型態與結構。
    掃瞄式電子顯微鏡

( Scanning Electron Microscope SEM)

利用電子槍產生電子束透過電磁透鏡所組成的電子光學系統,使其聚集成微小的電子束照射至試片表面,並將表面產生的訊號加以收集經放大處理後,輸入到同步掃瞄之陰極射線管,以顯示試片的表面影像。
紫外光/可見光光譜儀

(UV/Vis)

利用可見光及紫外光之燈管  (Lamp)做為光源,將特定波長之光線,射入樣品管,最後射入光電管中將光能轉換為電器訊號,藉由樣本及空白水樣間所吸收之光能量差,與標準液之能量吸收值相比較,便可律定樣本中之待測物濃度。
圓二色分光光譜儀

Circular dichroism  CD

CD可用於生物化學,核酸研究,酶動力學研究,蛋白質折疊研究,有機立體化學研究,光活性物質的純度檢測,藥物的定量分析,天然物有機化學...等,特別是蛋白質的二級結構研究。
霍氏轉換紅外線光譜儀

(FT-IR)

透過分子吸收紅外光區輻射作用引起振動和轉動能階的遷移所產生的紅外線吸收光譜,來鑑定化合物,大多用於官能基的鑑定。
螢光光譜儀

(pL)

以一段範圍的波長的光照cell中的化合物,因電子吸收特定波長的光由基態跳至激發態,再由激發態回到基態時的能量以螢光形式放出。
ZETA SIZER 利用立子所散射的能量差來量測從0.005微米至微米大小的粒徑
化學分析能譜儀

Electron Spectroscopy for Chemical AnalysisESCA,亦稱為XPS-X-ray photoelectron spectroscopy

分析材料表面元素及化學鍵結的儀器,可適用於電機、機械、電子、化工、化學、材料等研究領域。本系統亦包含運用電子束以進行材料表面元素成分分析及將電子束聚焦以進行表面微結構的掃描分析的歐傑電子影像能譜儀